
13
2
S
12 20K
S
203/K5-
)(
0
S
20K 0
为了保证系统稳定性,第一列应都为正数,所以
020K
0203/K5- )(
得: 0<K<12 即 R>41.7K 系统稳定
K=12 即 R=41.7K 系统临界稳定
0<K<12 即 R<41.7K 系统不稳定
系统稳定、临界稳定和不稳定时输出波形如图 2.6A,2.6B,2.6C 所示。
图 2.6A 系统稳定时输出波形 图 2.6B 系统临界稳定时输出波形 图 2.6C 系统不稳定时输出波形
五.实验内容及步骤
1. 将信号源单元的“ST”端插针与“S”端插针用“短路块”短接。由于每个运放单元均
设置了锁零场效应管,所以运放具有锁零功能。将开关设在“方波”档,分别调节调
幅和调频电位器,使得“OUT”端输出的方波幅值为 1V,周期为 10S 左右。
2. 典型二阶系统瞬态性能指标的测试。
(1) 按图 2.2 模拟电路图接线,将 1 中的方波信号接至输入端,R=10K。
(2) 用示波器观察系统阶跃响应 C(t),测量并记录超调量 Mp、峰值时间 tp 和调节时间
ts。
(3) 分别按 R=50K;160K;200K 改变系统开环增益,观察相应的阶跃响应 C(t),测量并
记录性能指标 Mp、tp、和 ts,并将测量值和计算值进行比较。
3.典型三阶系统的性能
(1) 按图 2.4 接线,将 1 中的方波信号接至输入端,R=30K;
(2) 观察系统的阶跃响应,并记录波形。
(3) 减小开环增益(R=42.6K;100K),观察系统的阶跃响应,并记录波形。
六、实验报告要求: